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電化學(xué)的微觀(guān)世界: 電化學(xué)顯微鏡(SECM)

更新時(shí)間:2020-03-25瀏覽:5368次
  說(shuō)到微觀(guān),人們的多數印象都是生物微觀(guān)世界,其實(shí)微觀(guān)只是用另一個(gè)角度去觀(guān)察世界,電化學(xué)也存在著(zhù)微觀(guān)世界的觀(guān)察者:電化學(xué)顯微鏡(SECM)。
 
 
  關(guān)于電化學(xué)顯微鏡
 
  掃描電化學(xué)顯微鏡(縮寫(xiě)SECM)是80年代末由A. J. Bard的小組提出和發(fā)展起來(lái)的一種掃描探針顯檄鏡技術(shù)。它是基于70年代末徽電極(UME)及80年代初掃描隧道顯微鏡(STM)發(fā)展而產(chǎn)生出來(lái)的一種分辨率介于普通光學(xué)顯微鏡與STM之間的電化學(xué)現場(chǎng)檢測新技術(shù),其核心是電化學(xué)和原位檢測。
 
 
  SECM的工作原理
 
  掃描電化學(xué)顯微鏡基于電化學(xué)原理工作,可測量微區內物質(zhì)氧化或還原所給出的電化學(xué)電流。利用驅動(dòng)非常小的電極(探針)在靠近樣品處進(jìn)行掃描,樣品可以是導體、絕緣體或半導體,從而獲得對應的微區電化學(xué)和相關(guān)信息,目前可達到的分辨率約為幾十納米。
  SECM的檢測信號是電流或者電位,因而具有化學(xué)反應靈敏性,不但可以研究探頭或者基底電極上的異相反應電荷轉移動(dòng)力學(xué)和溶液中的均相反應動(dòng)力學(xué),甚至可以獲得界面雙電層信息,還可以原位分辨表面微區電化學(xué)不均勻性,從而彌補了掃描電鏡等不能直接提供電化學(xué)活性信息的不足,這對于腐蝕研究具有重要的意義。
 
 
  SECM在腐蝕研究的運用
 
  正如上述所說(shuō),因為SECM的特性,SECM在腐蝕中的應用日益受到重視。通常腐蝕研究體系中探針與基底電極距離通過(guò)測試逼近曲線(xiàn),再根據理論*正反饋或者負反饋曲線(xiàn)來(lái)獲得。實(shí)際上,移動(dòng)探針的步進(jìn)馬達或者壓電陶瓷移動(dòng)距離與真實(shí)移動(dòng)距離不*一致,且在腐蝕研究體系中,逼近曲線(xiàn)也不全是*正反饋或者負反饋?lái)憫?。因此距離控制對于SECM在腐蝕研究中的應用是基本前提。
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