介電頻譜測試儀是模塊化的，整合的研究系統，可用來(lái)測試從絕緣體到導體的大部分材料的電學(xué)性質(zhì)。此測試系統即提供時(shí)域技術(shù)，如恒定電流，通過(guò)脈沖電壓和掃描電壓（I-V）確定材料的電學(xué)性能；又提供AC技術(shù)如阻抗、電容、C-V來(lái)提供更多細節信息進(jìn)一步分析材料的導電機理。適用于各種金屬氧化物，板材，瓷器（陶器），云母，玻璃，塑料等物質(zhì)的一項重要的物理性質(zhì)，通過(guò)測定可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數的各種因素，為提高材料的性能提供依據。該儀器用于科研機關(guān)、學(xué)校、工廠(chǎng)等單位對無(wú)機金屬新材料性能的應用研究科研機關(guān)、高校、工廠(chǎng)等地方。它是在特殊環(huán)境下，測量介質(zhì)在該環(huán)境溫度下的介電常數。

　　介電頻譜測試儀為分析低電導率、低損耗材料要擴展即使是較好的頻響分析儀的能力。單獨使用時(shí)，已不能有效地解決上述問(wèn)題。接口克服了這些限制，提供一個(gè)范圍過(guò)了12個(gè)數量級的快速可重復的阻抗測量，阻抗測量過(guò)100TΩ（1014Ω），可洞察各種材料包括聚合物、橡膠、木材、粘膠劑、電子元件、石臘及油類(lèi)等的特性。與易于操作的軟件相結合，系統能照應實(shí)驗技術(shù)而讓你集中精力于所得結果的分析。

　　介電頻譜測試儀的主要用途：

　　無(wú)源元件：可用于電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡(luò )元件等的阻抗參數評估和性能分析。

　　半導體元件：變容二極管的C-VDC特性；晶體管或集成電路的寄生參數分析。

　　其它元件：印制電路板、繼電器、開(kāi)關(guān)、電纜、電池等的阻抗評估。

　　介質(zhì)材料：塑料、陶瓷和其它材料的介電常數和損耗角評估。

　　磁性材料：鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導磁率和損耗角評估。

　　半導體材料：半導體材料的介電常數、導電率和C-V特性。

　　液晶材料：介電頻譜測試儀還可用于液晶單元的介電常數、彈性常數等C-V特性。