微區掃描電化學(xué)工作站的功能都有哪些呢？接下來(lái)小編帶你一起來(lái)探討一下!
微區掃描電化學(xué)是一個(gè)建立在電化學(xué)掃描探針的設計基礎上的，進(jìn)行超高測量分辨率及空間分辨率的非接觸式微區形貌及電化學(xué)微區測試系統。微區掃描電化學(xué)是提供給電化學(xué)及材料測試以高空間分辨率的一個(gè)測試平臺。
材料腐蝕的電化學(xué)測試方法局限于整個(gè)樣品的宏觀(guān)測試, 測試結果只反映樣品的不同局部位置的整體統計結果,不能反映出局部的腐蝕及材料與環(huán)境的作用機理.為進(jìn)行局部表面科學(xué)研究,微區掃描系統提供了一個(gè)新的途徑,并日益得到包括局部腐蝕領(lǐng)域的廣泛應用。近年來(lái)，人們一直在探索局部電化學(xué)過(guò)程的研究。*代掃描參比電極技術(shù)（SRET）能探測局部腐蝕的發(fā)生。第二代掃描振動(dòng)電極技術(shù)（SVET）采用振動(dòng)電極測量局部 （電流，電位〕隨遠離被測電極表面位置的變化。 SVET具有比SRET更高的靈敏度。在SVET和SVET基礎上，又提出了采用掃描Kelvin振動(dòng)電極（SKP）測量不同材料表面功函數。
SVET工作原理
掃描振動(dòng)參比電極系統是利用振動(dòng)電極和鎖相放大器消除微區掃描中的噪聲干擾,提高測量精度. SVET系統具有高靈敏度,非破壞性,可進(jìn)行電化學(xué)活性測量的特點(diǎn).它可進(jìn)行線(xiàn)性或面掃描,研究局部腐蝕（如電蝕和應力腐蝕的產(chǎn)生,發(fā)展等）,表面涂層及緩蝕劑的評價(jià)等方面的研究,掃描振動(dòng)探針（SVET）是在液態(tài)腐蝕環(huán)境下,進(jìn)行腐蝕研究的有力工具,它能檢測小于5uA/cm2的原位腐蝕。
SKP工作原理
SKP掃描開(kāi)爾文探針系統為表面科學(xué)測量提供了一個(gè)新的途徑，開(kāi)爾文探針是一種無(wú)接觸，無(wú)破壞性的儀器，可以用于測量導電的、半導電的，或涂覆的材料與試樣探針之間的功函差。 這種技術(shù)是用一個(gè)振動(dòng)電容探針來(lái)工作的，通過(guò)調節一個(gè)外加的前級電壓可以測量出樣品表面和掃描探針的參比針尖之間的功函差。 功函和表面狀況有直接關(guān)系的理論的完善使SKP成為一種很有價(jià)值的儀器，它能在潮濕甚至氣態(tài)環(huán)境中進(jìn)行測量的能力使原先不可能的研究變?yōu)楝F實(shí)。
微區掃描探針平臺系統主要技術(shù)參數：
1. 掃描范圍（X、Y、Z）：100mm×100mm×100mm
2. 掃描驅動(dòng)分辨率：8nm
3. 位移偏碼：線(xiàn)性，零滯后
4. 位移：閉環(huán)定位
5. 線(xiàn)性位移編碼分辨率：50nm
6. 重復性：250nm
7. 抗震光學(xué)平臺采用蜂巢狀的內部設計和硬質(zhì)鋼表面
8. 計算機通訊方式：USB接口; 儀器與儀器之間以以太網(wǎng)連接
9. 控制與分析軟件：隨機提供軟件預裝的高性能筆記本電腦。單一軟件平臺控制所有多種掃描探針技術(shù)；內嵌3D數據旋轉視圖功能，提高圖形的展現力；結果可以圖像或表格形式輸出，用于導入至其它分析或報告軟件
10. 大樣品池：VersaScan L池（選配件）
11. SECM電化學(xué)微池：VersaScan mL池 （選配件）
12. 樣品觀(guān)察系統：VersaCAM，含相機、鏡頭、顯示屏（選配件）
13. 微區技術(shù)：SECM、SVET、SKP、LEIS、SDC、OSP（可選配）
銷(xiāo)售熱線(xiàn)： 
