微區掃描電化學(xué)工作站是一個(gè)建立在電化學(xué)掃描探針的設計基礎上的，進(jìn)行高測量分辨率及空間分辨率的非接觸式微區形貌及電化學(xué)微區測試系統。 普林斯頓VersaScan微區掃描電化學(xué)工作站是提供給電化學(xué)及材料測試以*空間分辨率的一個(gè)測試平臺。每個(gè)VersaSCAN都具有高分辨率，長(cháng)工作距離的閉環(huán)定位系統并安裝于抗震光學(xué)平臺上。

    普林斯頓VersaScan微區掃描電化學(xué)工作站是提供給電化學(xué)及材料測試以*空間分辨率的一個(gè)測試平臺。每個(gè)VersaSCAN都具有高分辨率，長(cháng)工作距離的閉環(huán)定位系統并安裝于抗震光學(xué)平臺上。不同的輔助選件都安裝于定位系統上，輔助選件包括，如電位計，壓電振動(dòng)單元，或者激光傳感器，為不同掃描探針試驗，定位系統提供不同的功能。VersaSTAT恒電位儀和Signal Recovery 7230鎖相放大器和定位系統整合在一起，由以太網(wǎng)來(lái)控制，保證小信號的測量。

    普林斯頓VersaScan微區掃描電化學(xué)工作站是一個(gè)模塊化配置的系統，可以實(shí)現如下現今所有微區掃描探針電化學(xué)技術(shù)以及激光非接觸式微區形貌測試：

    1. Scanning Electrochemical Microscopy (SECM) 掃描電化學(xué)顯微鏡

    2. Scanning Vibrating Electrode Technique (SVET) 掃描振動(dòng)電極測試

    3. Scanning Kelvin Probe (SKP) 掃描開(kāi)爾文探針測試

    4. Localized Electrochemical Impedance Spectroscopy (LEIS) 微區電化學(xué)阻抗測試

    5. Scanning Droplet Cell (SDC) 掃描電解液微滴測試

    6. Non-Contact Surface Profiling (OSP) 非觸式光學(xué)微區形貌測試

    以上普林斯頓維區電化學(xué)工作站每項技術(shù)使用不同的測量探針，且安裝位置與樣品非常接近，但是不接觸到樣品。隨著(zhù)探針測試的進(jìn)行，改變探針的空間位置。然后將所記錄的數據對探針位置作圖，針對不同技術(shù)，該圖可以呈現微區掃描電化學(xué)電流，阻抗，相對功函或者是表面形貌圖。

    微區掃描電化學(xué)是一個(gè)模塊化的系統，微區掃描電化學(xué)可實(shí)現當今所有微區掃描探針電化學(xué)技術(shù)以及激光非接觸式微區形貌測試：

    - 掃描電化學(xué)顯微鏡(SECM)

    - 掃描振動(dòng)電極測試(SVET)

    - 掃描開(kāi)爾文(Kelvin)探針測試(SKP)

    - 微區電化學(xué)阻抗測試(LEIS)

    - 掃描電解液微滴測試(SDS)

    - 非觸式微區形貌測試(OSP)

    微區掃描電化學(xué)利用納米級分辨率的快速，閉環(huán)x,y,z定位系統，并連同一個(gè)便捷的數據采集系統使用戶(hù)依據自己的實(shí)驗選擇配置。微區掃描電化學(xué)系統設計靈活且人體工程學(xué)設計方便確保池體，樣品和探針的進(jìn)入。

    近年來(lái)，微區掃描電化學(xué)技術(shù)發(fā)展迅猛，在腐蝕和電沉積科學(xué)中的表面反映過(guò)程基礎研究，酶穩定性研究，生物大分子的電化學(xué)反應特性，化學(xué)傳感器，點(diǎn)蝕孔蝕，涂層完整性和均勻性，涂層下或逾金屬界面間的局部腐蝕，緩蝕劑性能等相關(guān)領(lǐng)域得到廣泛應用，微區掃描電化學(xué)倍受科技工作者的關(guān)注。