微區掃描電化學(xué)是一個(gè)精密的掃描微電極系統，具有*空間分辨率。微區掃描電化學(xué)在溶液中可檢測電流或施加電流于微電極與樣品之 間。微區掃描電化學(xué)具有互補性，微區掃描電化學(xué)是對溶液中樣品表面進(jìn)行原子級和納米級成像分析， 微區掃描電化學(xué)和EC-AFM更多地展現了電化學(xué)過(guò)程的表面物理圖像。而SECM則用于檢測、分析或改變樣品在溶液中的表面 和界面化學(xué)性質(zhì)。微區掃描電化學(xué)具有高分辨率、易操作、測試樣品更接近實(shí)際應用情況等特點(diǎn)，適用于分析研究各種實(shí)時(shí) 和原位的電化學(xué)反應過(guò)程。微區掃描電化學(xué)和EC-AFM強調的是結果，而微區掃描電化學(xué)注重的是過(guò)程和結果。

    微區掃描電化學(xué)有很多潛在的應用，目前主要用于電沉積和腐蝕科學(xué)中的表面反應過(guò)程基礎研究、酶穩定性研究、生物大分 子的電化學(xué)反應特性以及微機電系統（MEMS）等領(lǐng)域。

   微區掃描電化學(xué)系統工作特點(diǎn)：

    1．非接觸測量，不干擾測定體系；

    2. 對界面區狀態(tài)的變化敏感，如材料表面和表面膜元素分布，

    應力分布，界面區化學(xué)分布，電化學(xué)分布的變化；

    3. 測定金屬、絕緣膜下金屬和半導體電位分布；

    4. 10E-12A~10E-1 數量級的極弱交流信號的測量，測定裝置必須具

    有很高的抗干擾能力；

    5．在線(xiàn)（In-situ）圖示樣品微區電化學(xué)和樣品表面變化過(guò)程等；

    6．一維、二維和三維圖示與分析（3D軟件為標配）；

    7．特別適用液相和大氣環(huán)境下的材料表面和界面的微區顯微分析。

    微區掃描電化學(xué)主要測量材料在液體電解質(zhì)環(huán)境下的局部電化學(xué)反應過(guò)程；SKP能夠測量材料在不同濕度大氣環(huán)境下 ，甚至其它氣體環(huán)境下的微區特性及其隨環(huán)境變化過(guò)程等?，F在公司將用于液體電解質(zhì)環(huán)境下的局部電化學(xué)反應 過(guò)程的SVET和用于大氣環(huán)境下的SKP技術(shù)有機的結合在一起，極大地拓展了您的研究領(lǐng)域，有效地利用資源，降 低了您的購買(mǎi)費用。

   微區掃描電化學(xué)是一個(gè)建立在電化學(xué)掃描探針的設計基礎上的，進(jìn)行高測量分辨率及空間分辨率的非接觸式微區形貌及電化學(xué)微區測試系統。 普林斯頓VersaScan微區掃描電化學(xué)工作站是提供給電化學(xué)及材料測試以*空間分辨率的一個(gè)測試平臺。每個(gè)VersaSCAN都具有高分辨率，長(cháng)工作距離的閉環(huán)定位系統并安裝于抗震光學(xué)平臺上。