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IPCE量子效率測試系統的結構用途分析

更新時(shí)間:2018-06-15瀏覽:3077次
   IPCE量子效率測試系統的結構用途分析
  IPCE量子效率測試系統是表示太陽(yáng)能電池產(chǎn)生的電荷載流子數目與入射到太陽(yáng)能電池表面的光子數目之比。IPCE是對太陽(yáng)能電池內部效率的測量。對于太陽(yáng)能電池而言,在太陽(yáng)光譜組成分布較強的位置上具有好的光譜響應是極其重要的。因此,IPCE量子效率測試系統對太陽(yáng)能電池的材料研究及電池設計具有非常重要的意義。IPCE量子效率測試系統可以測試太陽(yáng)能電池的光譜響應度、外量子效率、內量子效率、反射率、透射率、短路電流密度等參數。
  IPCE量子效率測試系統用于測量、分析光電探測器、CMOS,CCD等器件的微小局部特性,由于CMOS單位畫(huà)素尺寸小于50微米,無(wú)法以一般的白光光源聚焦到微米等級的光斑,須采用激光光源方能聚焦到微米等級后,因此需要激光光束引致電流掃描圖譜儀,測量微小器件的居部特性。IPCE量子效率測試系統為精密的光電轉換效率量測掃描裝置,用于檢測光電探測器、CCD、CMOS器件的轉換效率、均勻度,光譜響應,量子效率等特性。IPCE量子效率測試系統其組成為激光源、聚焦光路集成系統、精密電動(dòng)掃描平臺、光電流訊號量測系統、控制分析系統及軟件等五大部分。
  IPCE量子效率測試系統的結構:
  1.激光源部分:采用高同調性、高能量的激光,作為激發(fā)光電探測器器件,引致其產(chǎn)生光電流,IPCE量子效率測試系統本身的光強度不穩定性需≦1%。
  2.聚焦光路集成系統:為多種光學(xué)零件(反射鏡、鏡座、光學(xué)濾鏡等等)組成之精密光學(xué)系統,可導引激光光源到聚焦光學(xué)鏡組,聚焦后產(chǎn)生微米等級的光點(diǎn),用以量測光電器件微小局部特性。
  3.精密電動(dòng)掃描平臺:IPCE量子效率測試系統用以載附光電器件作二維移動(dòng),以使聚焦光點(diǎn)能在器件表面作掃描量測。
  4.光電流訊號量測系統:聚焦后的光點(diǎn)在入射到器件后,產(chǎn)生光電轉換,生成微弱光電流訊號(奈安培到微安培等級),經(jīng)過(guò)光電轉換放大器,鎖相放大器測得此光電訊號。
  5.控制分析系統及軟件:IPCE量子效率測試系統能控制激光源、光束大小調整、精密電動(dòng)平臺移動(dòng)、及微弱光電量測四大部分,作器件特性的二為掃描量測,并將量測數據自動(dòng)作分析及繪制二維及三微的圖形顯示。
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