介電材料頻譜測試儀是模塊化的，整合的研究系統，可用來(lái)測試從絕緣體到超導體的大部分材料的電學(xué)性質(zhì)。它為分析低電導率、低損耗材料要擴展即使是較好的頻響分析儀的能力。該儀器用于科研機關(guān)、學(xué)校、工廠(chǎng)等單位對無(wú)機金屬新材料性能的應用研究科研機關(guān)、高校、工廠(chǎng)等地方。
 

　　此測試系統即提供時(shí)域技術(shù)，如恒定電流，通過(guò)脈沖電壓和掃描電壓(I-V)確定材料的電學(xué)性能；又提供AC技術(shù)如阻抗、電容、C-V來(lái)提供更多細節信息進(jìn)一步分析材料的導電機理。適用于各種金屬氧化物，板材，瓷器(陶器)，云母，玻璃，塑料等物質(zhì)的一項重要的物理性質(zhì)，通過(guò)測定可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數的各種因素，為提高材料的性能提供依據。它是在特殊環(huán)境下，測量介質(zhì)在該環(huán)境溫度下的介電常數。
 

　　介電材料頻譜測試儀的主要用途：
 

　　無(wú)源元件：介電材料頻譜測試儀可用于電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡(luò )元件等的阻抗參數評估和性能分析。
 

　　半導體元件：變容二極管的C-VDC特性；晶體管或集成電路的寄生參數分析。
 

　　其它元件：印制電路板、繼電器、開(kāi)關(guān)、電纜、電池等的阻抗評估。
 

　　介質(zhì)材料：塑料、陶瓷和其它材料的介電常數和損耗角評估。
 

　　磁性材料：鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導磁率和損耗角評估。
 

　　半導體材料：半導體材料的介電常數、導電率和C-V特性。
 

　　液晶材料：介電材料頻譜測試儀還可用于液晶單元的介電常數、彈性常數等C-V特性。