微區電化學(xué)顯微鏡簡(jiǎn)稱(chēng)SECM，是一種用于在微觀(guān)尺度下進(jìn)行電化學(xué)測量的技術(shù)。它結合了電化學(xué)和掃描探針顯微鏡的原理，可以提供對電化學(xué)反應在表面上的局部分布和動(dòng)態(tài)過(guò)程的信息。
 

　　工作原理如下：
 

　　微探針：使用具有微小的探針作為電極，并通過(guò)控制探針與樣品之間的距離來(lái)實(shí)現掃描。
 

　　探測模式：可以采用兩種主要的探測模式：接觸模式和非接觸模式。在接觸模式中，探針直接接觸樣品表面，從而測量電流或電位差。在非接觸模式中，探針與樣品之間保持一定的距離，通過(guò)測量電荷傳遞率或其他信號來(lái)獲得有關(guān)樣品的信息。
 

　　掃描過(guò)程：通過(guò)控制探針與樣品的相對位置進(jìn)行掃描。它可以按照X-Y平面進(jìn)行掃描，以獲取樣品表面的電化學(xué)性質(zhì)分布。同時(shí)，控制探針與樣品之間的距離變化，可以獲得樣品表面的高度圖像。
 

　　反饋系統：配備了反饋系統，用于在掃描過(guò)程中保持探針與樣品之間的恒定距離。通過(guò)對探針與樣品之間的電流或電勢進(jìn)行監測和調節，反饋系統可以實(shí)時(shí)控制探針位置，并維持所需的掃描條件。
 

　　數據獲取和分析：獲得的數據可以用于生成電化學(xué)圖像、電流-電位曲線(xiàn)等信息。這些數據可以進(jìn)一步分析，以了解樣品的電化學(xué)行為、反應動(dòng)力學(xué)等方面的信息。

 

　　微區電化學(xué)顯微鏡通過(guò)探測器件與樣品之間的電化學(xué)相互作用，利用掃描和控制技術(shù)來(lái)實(shí)現對微觀(guān)尺度下電化學(xué)過(guò)程的研究和表征。
 

　　SECM利用微型探針與電解質(zhì)溶液之間的電流、電勢或電阻等信號來(lái)探測樣品表面的電化學(xué)性質(zhì)。探針通過(guò)掃描或定位在樣品表面，然后測量電化學(xué)信號，從而產(chǎn)生高分辨率的電化學(xué)圖像。SECM可用于研究化學(xué)反應動(dòng)力學(xué)、電極活性中心的檢測、界面電荷轉移過(guò)程等方面的問(wèn)題。
 

　　相比傳統的宏觀(guān)電化學(xué)技術(shù)，微區電化學(xué)顯微鏡具有更高的空間分辨率和靈敏度。它可以提供關(guān)于電化學(xué)反應在微觀(guān)尺度上的差異和異質(zhì)性的信息，并且可以在液體環(huán)境中進(jìn)行實(shí)時(shí)觀(guān)察。這使得顯微鏡在材料科學(xué)、電化學(xué)催化、生物電化學(xué)等領(lǐng)域的研究中得到廣泛應用。