電化學(xué)顯微鏡為表面科學(xué)測量提供了一個(gè)新的途徑，開(kāi)爾文探針是一種無(wú)接觸，無(wú)破壞性的儀器，可以用于測量導電的、半導電的，或涂覆的材料與試樣探針之間的功函差。 這種技術(shù)是用一個(gè)振動(dòng)電容探針來(lái)工作的，通過(guò)調節一個(gè)外加的前級電壓可以測量出樣品表面和掃描探針的參比針尖之間的功函差。 功函和表面狀況有直接關(guān)系的理論的完善使SKP成為一種很有價(jià)值的儀器，它能在潮濕甚至氣態(tài)環(huán)境中進(jìn)行測量的能力使原先不可能的研究變?yōu)楝F實(shí)。 
 

電化學(xué)顯微鏡主要特點(diǎn)：

    SECM是一個(gè)精密的掃描微電極系統，具有*空間分辨率。它在溶液中可檢測電流或施加電流于微電極與樣品之間。SECM與EC-STM、EC-AFM具有互補性，EC-STM和EC-AFM是對溶液中樣品表面進(jìn)行原子級和納米級成像分析，EC-STM和EC-AFM更多地展現了電化學(xué)過(guò)程的表面物理圖像。而SECM則用于檢測、分析或改變樣品在溶液中的表面和界面化學(xué)性質(zhì)。SECM具有高分辨率、易操作、測試樣品更接近實(shí)際應用情況等特點(diǎn)，適用于分析研究各種實(shí)時(shí)和原位的電化學(xué)反應過(guò)程。EC-STM和EC-AFM強調的是結果，而SECM注重的是過(guò)程和結果。

電化學(xué)顯微鏡的應用：
    SECM有很多潛在的應用，目前主要用于電沉積和腐蝕科學(xué)中的表面反應過(guò)程基礎研究、酶穩定性研究、生物大分子的電化學(xué)反應特性以及微機電系統（MEMS）等領(lǐng)域。
 

• 不銹鋼和鋁等材料的點(diǎn)蝕檢測、成長(cháng)過(guò)程在線(xiàn)監測等；
• 有機和金屬涂層缺陷和完整性研究；
• 金屬/有機涂層界面的腐蝕的機制與檢測；
• 有機涂層的剝離和脫落機制；
• 鈍化處理的不銹鋼焊接熱影響區的電位分布；
• 干濕循環(huán)的碳鋼和不銹鋼的陰極區和陽(yáng)極區的分布行為；
• 薄液層下氧還原反應和金屬的腐蝕過(guò)程的特征；
• 模擬不同大氣環(huán)境的腐蝕電位在線(xiàn)監測；
• 鋁合金等材料在大氣環(huán)境中局部腐蝕敏感性；
• 鋁合金的絲狀腐蝕（filiform corrosion）；
• 硅烷L(cháng)-B膜修飾金屬表面的結構和穩定性；
• 鋅-鐵偶合金屬界面區的電位分布特征；
• 磷化處理鋅表面的碳微粒污染檢測；
• 檢測微小金屬表面的應力分布和應力腐蝕開(kāi)裂；
• 檢測金屬和半導體材料微小區域的表面清潔度，缺陷，損傷和均勻程度；
• 研究和評價(jià)氣相緩蝕劑性能；
• 電化學(xué)傳感器；